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本原納米 CSPM5500掃描探針顯微鏡
- 產(chǎn)品介紹：本原納米 CSPM5500掃描探針顯微鏡是本原納米儀器有限公司于2008年8月研制成功的新一代掃描探針顯微鏡,其功能齊全、性能*、運(yùn)行穩(wěn)定、使用方便，非常適合用戶(hù)開(kāi)展納米研究工作。
- 產(chǎn)品型號(hào)：
- 更新時(shí)間：2024-07-18
- 廠(chǎng)商性質(zhì)：生產(chǎn)廠(chǎng)家
- 產(chǎn)品品牌：
- 產(chǎn)品廠(chǎng)地：廣州市
- 訪(fǎng)問(wèn)次數(shù)：3547
- 在線(xiàn)留言 400-875-1717轉(zhuǎn)809
產(chǎn)品介紹
| 產(chǎn)地類(lèi)別 | 國(guó)產(chǎn) |
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本原納米 CSPM5500掃描探針顯微鏡
儀器簡(jiǎn)介：
CSPM5500是本原納米儀器有限公司于2008年8月研制成功的新一代掃描探針顯微鏡,其功能齊全、性能*、運(yùn)行穩(wěn)定、使用方便，非常適合用戶(hù)開(kāi)展納米研究工作。
本原納米 CSPM5500掃描探針顯微鏡
技術(shù)參數(shù)：
(1)國(guó)際主流的研究級(jí)專(zhuān)業(yè)儀器，集成原子力顯微鏡(AFM)，橫向力顯微鏡(LFM)，掃描隧道顯微鏡(STM)
(2)分辨率：
原子力顯微鏡：橫向0.2nm，垂直0.1nm（以云母晶體標(biāo)定）
掃描隧道顯微鏡：橫向0.1nm，垂直0.01nm（以石墨晶體標(biāo)定）
(3)高精度計(jì)量型儀器，采用NanoSensors提供的可溯源于國(guó)際計(jì)量權(quán)威機(jī)構(gòu)Physikalisch-Technische Bundesanstalt (PTB)的標(biāo)準(zhǔn)樣品進(jìn)行校準(zhǔn)
(4)一鍵式快速全程全自動(dòng)進(jìn)樣，無(wú)需手動(dòng)預(yù)調(diào)，行程大于30mm，可容納超大樣品
(5)兩級(jí)可讀數(shù)樣品調(diào)節(jié)機(jī)構(gòu)，可對(duì)樣品進(jìn)行精確的檢測(cè)區(qū)域定位
(6)一次掃描技術(shù)，圖像分辨高達(dá)4096×4096物理象素，微米級(jí)掃描即可得到納米級(jí)的實(shí)際信息
(7)*進(jìn)PID反饋算法實(shí)現(xiàn)快速高精度作用力控制，確保系統(tǒng)在高速掃描中穩(wěn)定成像，實(shí)際掃描速度提升一個(gè)數(shù)量級(jí)
(8)系統(tǒng)采用10M/100M快速以太網(wǎng)(Fast Ethernet 10/100)或USB 2.0與計(jì)算機(jī)連接
(9)主控機(jī)箱前面板具有16×4液晶顯示屏，系統(tǒng)當(dāng)前狀態(tài)實(shí)時(shí)顯示
(10)具備實(shí)時(shí)在線(xiàn)三維圖像顯示功能，便于用戶(hù)在檢測(cè)過(guò)程中隨時(shí)直觀(guān)獲得樣品信息
主要特點(diǎn)：
(1) 標(biāo)準(zhǔn)配置：
原子力顯微鏡(AFM)：包括接觸、輕敲、相移成像(Phase Imaging)等多種工作模式
橫向力顯微鏡(LFM)：具有摩擦力回路曲線(xiàn)、摩擦力載荷曲線(xiàn)、摩擦力恒載荷曲線(xiàn)等摩擦學(xué)性能分析測(cè)量功能
掃描隧道顯微鏡(STM)：包括恒流模式、恒高模式、I-V曲線(xiàn)、I-Z曲線(xiàn)等
曲線(xiàn)測(cè)量分析功能：力-距離曲線(xiàn)、振幅-距離曲線(xiàn)、相移-距離曲線(xiàn)等
(2)選配功能：
納米加工：包括圖形刻蝕模式、壓痕/機(jī)械刻畫(huà)、矢量掃描模式、DPN浸潤(rùn)筆模式等；
磁力顯微鏡/靜電力顯微鏡；
環(huán)境控制掃描探針顯微鏡；
液相掃描探針顯微鏡；
導(dǎo)電原子力顯微鏡；
掃描探針聲學(xué)顯微鏡；
掃描開(kāi)爾文探針顯微鏡；
掃描電容顯微鏡；
壓電力顯微鏡
