廣州貝拓科學(xué)技術(shù)有限公司參加了第八屆中國創(chuàng)新創(chuàng)業(yè)大賽(廣東•廣州賽區(qū))暨第四屆羊城“科創(chuàng)杯”創(chuàng)新創(chuàng)業(yè)大賽與2020年廣州市科技型中小企業(yè)技術(shù)創(chuàng)新專題深度融合，通過“以賽代評”的市場化遴選機(jī)制，擇優(yōu)支持我市科技型中小企業(yè)發(fā)展。
       經(jīng)公開自主申報(bào)、各區(qū)科技主管部門推薦、“科創(chuàng)杯”創(chuàng)新創(chuàng)業(yè)大賽評選等程序，本公司通過全體員工的努力，成功獲得本次“先進(jìn)制造行業(yè)成長組優(yōu)勝獎”項(xiàng)目的資助。2020年        廣州市科技型中小企業(yè)技術(shù)創(chuàng)新專題補(bǔ)助名單公布。
        科技型中小企業(yè)技術(shù)創(chuàng)新基金是經(jīng)國務(wù)院批準(zhǔn)設(shè)立，用于支持科技型中小企業(yè)技術(shù)創(chuàng)新的政府專項(xiàng)基金。通過撥款資助、貸-款貼息和資本金投入等方式扶持和引導(dǎo)科技型中小企業(yè)的技術(shù)創(chuàng)新活動，促進(jìn)科技成果的轉(zhuǎn)化，培育一批具有中國特色的科技型中小企業(yè)，加快高新技術(shù)產(chǎn)業(yè)化進(jìn)程，必將對我國產(chǎn)業(yè)和產(chǎn)品結(jié)構(gòu)整體優(yōu)化，擴(kuò)大內(nèi)需，創(chuàng)造新的就業(yè)機(jī)會，帶動和促進(jìn)國民經(jīng)濟(jì)健康、穩(wěn)定、快速的發(fā)展等起到積極的作用。

      廣州貝拓科學(xué)技術(shù)有限公司是一家致力于向高科技企業(yè)、科研機(jī)構(gòu)及高校提供先進(jìn)實(shí)驗(yàn)分析儀器、設(shè)備的供應(yīng)商。我們不僅僅提供產(chǎn)品，我們還可以幫助客戶在檢測、分析和生產(chǎn)過程當(dāng)中得到先進(jìn)、可靠的技術(shù)服務(wù)和解決方案。
      我們的優(yōu)勢和專注點(diǎn)集中于材料測試方面，其中包括材料的結(jié)構(gòu)、元素分布、表面特征、物理化學(xué)特性以及光學(xué)、電學(xué)特性的分析。
貝拓科學(xué)自主產(chǎn)品接觸角測量儀、表面張力儀、白光干涉薄膜厚度測厚儀、透反射率測量儀、原子力顯微鏡。

產(chǎn)品一：光學(xué)接觸角測量儀(水滴角)


產(chǎn)品功能與用途：
用途：通過分析接觸角可以得知固體的親水疏水特性以及液體的潤濕性，方便快捷的評價表面處理程度，常用于塑料、玻璃金屬、陶瓷、木材、紙材、織物或金屬的潤濕性測試以及各種表面的潔凈測試。功能：光學(xué)接觸角測量儀能夠精確控制液滴滴定體積及位置，調(diào)整光源強(qiáng)度，調(diào)整焦距和畫面以及相機(jī)捕捉頻率，得到清晰的液體形狀。軟件根據(jù)獲取的終圖像進(jìn)行分析。分析軟件可從圖像中自動或手動找到基線并選擇合適的擬合方程。測量液體與固體之間的接觸角，得到液體的表面張力以及固體的表面能。


產(chǎn)品二：表面張力儀

   表面張力儀-KF100功能多樣，可以全自動測量表面和界面張力。KF100提供了諸多擴(kuò)展模塊來拓展儀器的應(yīng)用范圍, 用于測定表面和界面的各種特性，大大提高了其使用的靈活性。用標(biāo)準(zhǔn)方法來測量液體的表面和界面張力。測量溫度控制范圍從-10到130 °C，可以滿足實(shí)際測量需要。測樣空間寬敞，有利于樣品方便的處理。KF100測試結(jié)果準(zhǔn)確、快速、穩(wěn)定，深受用戶好評！ 

產(chǎn)品特點(diǎn)：
● 具有超高分辨率，可達(dá)0.01mN/m。
● 德國*天平，裝備有自動保護(hù)系統(tǒng)。
● 使用先進(jìn)的直流步進(jìn)電機(jī)，保證樣品臺的升降平穩(wěn)。
● 測量速度高達(dá)50Hz，每20毫秒出一個數(shù)據(jù)。 
● 并內(nèi)置白光LED照明，易于尋找測量界面。
● 樣品臺大約有100mm的移動空間，適合各種
   不同體積樣品的測量。
● 樣品臺的溫度可控制在-10℃～130℃。
● 配備功能強(qiáng)大，界面友好的TENTION軟件。

產(chǎn)品三 ：白光干涉薄膜厚度測量儀Delta

     白光干涉薄膜厚度測量儀Delta利用薄膜干涉光學(xué)原理，對薄膜進(jìn)行厚度測量及分析。用從深紫外到近紅外可選配的寬光譜光源照射薄膜表面，探頭同位接收反射光線。Delta根據(jù)反射回來的干涉光，用反復(fù)校準(zhǔn)的算法快速反演計(jì)算出薄膜的厚度。測量范圍1nm-3mm，可同時完成多層膜厚的測試。對于100nm以上的薄膜，還可以測量n和k值。